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제품정보

반사율/투과율 측정 시스템 SM-GA-2800

반사율/투과율 측정 시스템 SM-GA-2800

SM-GA-2800
  • 고정밀 분광기와 안정적인 광원을 사용하며, 적분구(Integrating Sphere) 인터페이스를 통해 투과율(Transmittance) 을 측정할 수 있습니다.
  • 8° 입사각을 광학 포트에 적용하여 반사율(Reflectance) 측정도 가능합니다.
  • 본 시스템은 투과율과 반사율을 하나의 장비로 모두 측정할 수 있는 듀얼 기능을 제공합니다.
  • 백색판(White)·흑색판(Black) 보정을 지원하고, 측정 결과로 스펙트럼 및 파장 데이터를 출력합니다.

제품 사양

모델명 SM-GA-2800


제품 상세 설명

고정밀 분광기와 안정적인 광원을 사용하며, 적분구(Integrating Sphere) 인터페이스를 통해 투과율(Transmittance) 을 측정할 수 있습니다.


또한 8° 입사각을 광학 포트에 적용하여 반사율(Reflectance) 측정도 가능합니다.


본 시스템은 투과율과 반사율을 하나의 장비로 모두 측정할 수 있는 듀얼 기능을 제공하며, 백색판(White)·흑색판(Black) 보정을 지원합니다. 측정 결과로 스펙트럼 및 파장 데이터를 출력합니다.



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